GNR，TX2000全反射X熒光光譜儀，TXRF與EDXRF的有機(jī)結(jié)合體

 GNR，TX2000全反射X熒光光譜儀，TXRF與EDXRF的有機(jī)結(jié)合體

分析原理

TX2000 原理是基于X 熒光能譜法，但與 X 射線能譜形成對(duì)比的是“傳統(tǒng)能譜采用原級(jí) X 光束以 45°角轟擊樣品，而TXRF 采用毫弧度的臨界角。由于采用此種近于切線方向的入射角，原級(jí) X 光束幾乎可以全部被反射，照射在樣品表面后，可以一定程度上避免樣品載體吸收光束和減小散射的發(fā)生，同時(shí)減小了載體的背景和噪聲"。

僅需將一小滴樣品（5-100uL 采用合適溶劑溶解的被測物質(zhì)）放置在二氧化硅載體上，溶劑蒸發(fā)后形成一層厚度為幾納米的殘留物，此時(shí)可以一定程度上消除來自于樣品和樣品基體產(chǎn)生的散射。由于殘留物薄膜厚度極小，在還未產(chǎn)生基體影響時(shí)已經(jīng)完成了檢測工作，結(jié)合高功率 / 高分辨儀器，通過內(nèi)標(biāo)監(jiān)控即可輕松完成多元素同時(shí)定量分析的工作。

儀器特點(diǎn)

★ 將全反射和傳統(tǒng)的能量色散集成在同一臺(tái)儀器上

★ 配備創(chuàng)新光學(xué)編碼器的步進(jìn)電機(jī)，保證精確角度測量

★ 采用雙靶 (Mo/W) X 射線管，軟件控制自動(dòng)切換原始光束和軔致輻射

★ 高分辨、低背景的帕爾貼控溫硅漂移檢測器

★ 極小的樣品與檢測器間距，保證極低背景干擾和優(yōu)異的靈敏度

★ 超出 50 余種元素的檢出限低于 10pg

★ 氦氣附件可以改善輕元素的檢出限

★ 能譜儀采用全自動(dòng)設(shè)計(jì)，操作者可以通過計(jì)算機(jī)控制全反射條件獲得不同的能量源，控制單色器步進(jìn)電機(jī)和射線管的開關(guān)

應(yīng)用舉例

環(huán)境分析：    水、灰塵、沉積物、大氣懸浮物

制藥分析：     生物體液和組織樣品中的有害元素

法醫(yī)學(xué)：     微小證據(jù)分析

化學(xué)純度分析： 酸、堿、鹽、溶劑、水、超純?cè)噭?/span>

油品分析：     原油、輕質(zhì)油、燃料油

染料分析：     墨水、油漆、粉末半導(dǎo)體

材料分析：      揮發(fā)相分解

核材料工業(yè)： 放射性元素分析

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