MTM 3D-SLIM 薄膜厚度測量選配件

零件代碼：PCS-002673

3D間隔成像（3D-SLIM）選項使用光學干涉術(shù)來測量樣品在測試過程中形成的亞微米添加劑膜。為了進行測量，將鋼試驗球裝在涂有鉻和二氧化硅層的玻璃盤上。接觸點由一個白色光源照亮，該光源沿著顯微鏡向下并穿過玻璃盤。

一部分光從光盤上的鉻層反射，另一部分穿過二氧化硅層和任何附加膜，并從鋼球反射回來。重組光路形成干涉圖像，該圖像聚焦在高分辨率RGB相機的成像器上。攝像機圖像由數(shù)字圖像采集卡捕獲，并可以由控制軟件進行分析，以確定觸點的膜厚圖。

為了進行測試，將鋼球放在鋼盤上，并在混合的滑動/滾動條件下運行固定的時間。在整個測試過程中，定期將球停下，逆向加載到玻璃盤上，并獲取整個接觸區(qū)域的膜厚圖。這使得可以對形成的任何反應(yīng)膜進行膜厚測量。當與摩擦測量值結(jié)合使用時，這將提供在觸點中形成的膜的化學和物理作用的完整實時圖像。

MTM 3D-SLIM 薄膜厚度測量選配件

零件代碼：PCS-002673

3D間隔成像（3D-SLIM）選項使用光學干涉術(shù)來測量樣品在測試過程中形成的亞微米添加劑膜。為了進行測量，將鋼試驗球裝在涂有鉻和二氧化硅層的玻璃盤上。接觸點由一個白色光源照亮，該光源沿著顯微鏡向下并穿過玻璃盤。

一部分光從光盤上的鉻層反射，另一部分穿過二氧化硅層和任何附加膜，并從鋼球反射回來。重組光路形成干涉圖像，該圖像聚焦在高分辨率RGB相機的成像器上。攝像機圖像由數(shù)字圖像采集卡捕獲，并可以由控制軟件進行分析，以確定觸點的膜厚圖。

為了進行測試，將鋼球放在鋼盤上，并在混合的滑動/滾動條件下運行固定的時間。在整個測試過程中，定期將球停下，逆向加載到玻璃盤上，并獲取整個接觸區(qū)域的膜厚圖。這使得可以對形成的任何反應(yīng)膜進行膜厚測量。當與摩擦測量值結(jié)合使用時，這將提供在觸點中形成的膜的化學和物理作用的完整實時圖像。